Composante
ENSMAC
Code interne
PI6ANAMI
Description
L'objectif de cet enseignement est de présenter les techniques de caractérisations des matériaux par diffraction des rayons X et par microscopie électronique (balayage et transmission).
Pré-requis obligatoires
Le cours de cristallographie de A. Veillère (S5)
Syllabus
Chapitre 1 : Diffraction des rayons X
Introduction
Production des rayons X
Détection des rayons X
Protection contre les rayons X
Interaction rayons X / Matière
Rappels de cristallographie
Théorie de la diffraction des rayons X
Applications
Chapitre 2 : Microscopie électronique
Introduction
Microscopie électronique à balayage
Microscopie électronique à transmission
Récapitulatif
Informations complémentaires
Chimie Physique et Analytique
Bibliographie
Cristallographie géométrique et radiocristallographie, J.-J. Rousseau et A. Gibaud, Ed. Dunod, 2007.
Introduction à la cristallographie et à la chimie structurale, M. Van Meerssche, Ed. Peteer, 1994.
Techniques de l'ingénieur, Microscopie électronique à balayage - Principe et équipement, Henri Paqueton et Jacky Ruste, P865.
Techniques de l'ingénieur, Microscopie électronique à balayage - Images, applications et développements, Henri Paqueton et Jacky Ruste, P866.
Modalités de contrôle des connaissances
Évaluation initiale / Session principale - Épreuves
Type d'évaluation | Nature de l'épreuve | Durée (en minutes) | Nombre d'épreuves | Coefficient de l'épreuve | Note éliminatoire de l'épreuve | Remarques |
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Epreuve Terminale | Ecrit | 60 | 1 |
Seconde chance / Session de rattrapage - Épreuves
Type d'évaluation | Nature de l'épreuve | Durée (en minutes) | Nombre d'épreuves | Coefficient de l'épreuve | Note éliminatoire de l'épreuve | Remarques |
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Epreuve terminale | Ecrit | 60 | 1 |