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Analyses microscopiques

  • Composante

    ENSMAC

Code interne

PI6ANAMI

Description

L'objectif de cet enseignement est de présenter les techniques de caractérisations des matériaux par diffraction des rayons X et par microscopie électronique (balayage et transmission).

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Pré-requis obligatoires

Le cours de cristallographie de A. Veillère (S5)

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Syllabus

Chapitre 1 : Diffraction des rayons X


Introduction
Production des rayons X
Détection des rayons X
Protection contre les rayons X
Interaction rayons X / Matière
Rappels de cristallographie
Théorie de la diffraction des rayons X
Applications



Chapitre 2 : Microscopie électronique


Introduction
Microscopie électronique à balayage
Microscopie électronique à transmission
Récapitulatif

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Informations complémentaires

Chimie Physique et Analytique

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Bibliographie


Cristallographie géométrique et radiocristallographie, J.-J. Rousseau et A. Gibaud, Ed. Dunod, 2007.
Introduction à la cristallographie et à la chimie structurale, M. Van Meerssche, Ed. Peteer, 1994.
Techniques de l'ingénieur, Microscopie électronique à balayage - Principe et équipement, Henri Paqueton et Jacky Ruste, P865.
Techniques de l'ingénieur, Microscopie électronique à balayage - Images, applications et développements, Henri Paqueton et Jacky Ruste, P866.

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Modalités de contrôle des connaissances

Évaluation initiale / Session principale - Épreuves

Type d'évaluationNature de l'épreuveDurée (en minutes)Nombre d'épreuvesCoefficient de l'épreuveNote éliminatoire de l'épreuveRemarques
Epreuve TerminaleEcrit601

Seconde chance / Session de rattrapage - Épreuves

Type d'évaluationNature de l'épreuveDurée (en minutes)Nombre d'épreuvesCoefficient de l'épreuveNote éliminatoire de l'épreuveRemarques
Epreuve terminaleEcrit601